Physik Journal, März 2016

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N E U E P R O D U K T E
© 2016 Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim Physik Journal 15 (2016) Nr. 3 91
Neue Lasermodule mit integriertem Microcontroller
Hersteller: Laser Components.
Angebot: Neue „FLEXPOINT“-Lasermo-
dule mit integriertem Microcontroller,
erkennbar an dem Zusatz „DIG“ in der
Namensgebung. Als erstes Modul wurden
die Bildverabeitungslaser der Serie „MV-
micro DIG“ ausgestattet. Sie sind in den
Wellenlängen 520 nm, 405 nm, 450 nm,
640 nm, 660 nm, 785 nm und 830 nm
erhältlich.
Merkmale: Der Microcontroller kann
über eine RS-232-Schnittstelle mit dem
Modul kommunizieren und sogar die
Laserparameter konfigurieren. So ist
es u. a. möglich, die Betriebsstunden
abzufragen, aber auch die Temperatur
oder den Diodenstrom. Programmieren
lassen sich beispielsweise eine bestimmte
Ausgangsleistung oder eine Temperatu-
rabschaltung. Über die Schnittstelle sind
weitere Einstellungen möglich, etwa die
digitale oder analoge Modulation und ei-
ne stufenlose Leistungseinstellung. Auch
kundenspezifische Programmierungen
sind möglich.
Die „MVmicro DIG“ Laser gibt es in
zahlreichen verschiedenen Ausfüh-
rungen: Die Module projizieren entwe-
der eine einzelne Linie oder parallele
„Multilinien“ mit homogener Leistungs-
verteilung. Weitere Konfigurationen
mit einer besonders dünnen Linie oder
einem erweiterten Tiefenschärfebereich
sind ebenfalls erhältlich. Die Linien
werden einfach per Hand fokussiert,
Werkzeug wird dafür nicht benötigt. Die
Laser sind mit einem M12-Stecker für
den elektrischen Anschluss ausgestattet.
n
Laser Components GmbH
Werner-von-Siemens-Str. 15
82140 Olching
Tel.: +49 (0)8142 2864-0
Fax: +49 (0)8142 2864-11
E-Mail:
Website:
Control Stuttgart, Halle 1, Stand 1635
analytica München, Halle A2, Stand 500
Sensor + Test Nürnberg, Halle 1,
Stand 256
Neue Baureihe von Rasterkraftsonden
Hersteller: MikroMasch.
Vertrieb: NanoAndMore.
Angebot: Neue Rasterkraftsondenlinie
„OPUS“ AFM Tips, die sich durch eine
sichtbare Sondenspitze auszeichnen. Die
Spitze der AFM Tips befindet sich in
einem rechten Winkel immer genau am
Ende des Cantilevers; dies ermöglicht die
exakte Positionierung der Spitze oberhalb
des zu untersuchenden Objekts.
Merkmale: Die AFM Tips sind für alle
gängigen Anwendungsmodi der Raster-
sondenmikroskopie, inklusive High-
speedscanning, erhältlich. Die Schärfe
der Spitze ist besser als 7 nm; sie zeichnen
sich durch einen hohen Q-Faktor aus
und sind optional mit Coatings lieferbar.
Dabei bieten sie ein günstiges Preis/Leis-
tungs-Verhältnis. Kostenlose Muster auf
Anfrage erhältlich. Weitere Details auch
unter
n
NanoAndMore GmbH
Steinbühlstr. 7
35578 Wetzlar
Tel.: +49 (0)6441 8706272
Fax: +49 (0)6441 8706274
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